品牌 | 其他品牌 | 货号 | 123 |
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规格 | CSF-8-30-1U | 供货周期 | 一个月以上 |
主要用途 | 半导体 | 应用领域 | 电子 |
品牌 | 哈默纳科 | 用途 | 半导体 |
材质 | 钢 | 精度 | 高 |
缺陷越大,这种差异也越大。因此,无论是酗量长度或当量大小,它们并不能真实表示议陷的实际尺寸。而仅仅是一个相对值,哈默纳科超声波测量精密谐波CSF-8-30-1U这个相对值与缺陷的实际尺寸之问不一定有确定性数量关系。但是,在相同条件,相同方法测定的缺陷大小之间,可类比数值的相对大小。用超声波法测定缺陷的实际尺寸需用特殊的方法。
超声波探伤块陷的定位方法是根据工件中的声速和反射时间来确定的,利用探伤仪示浪屏时间轴‘水平轴来测量。在超声波波型《纵波、横波、表
面波或板波)确定后,在特定工件中的声速也就已知,把时间轴的间距调节到与工件厚度相对应,那么从尔波屏上缺陷反射波的位界就可直接读出缺陷位置。在横波斜角探伤中,缺陷定位比直探头探伤要复杂些,需要对斜探头斜楔中的声程距离进行修正操作;要通过适当的直角三角函数运算或i!哈默纳科超声波测量精密谐波CSF-8-30-1U算尺寸确定缺陷时水平和垂直位置,若要从仪表屏波屏时间轴上直读缺陷位置,则需用试块进行专门的校准操作。
超声波探伤缺..的定性尚有困难,在A型显示中,主要根据缺陷反射波脉冲波形内特征及工艺过程和探伤人员的经验。在B型和C显示中,根据示波屏图象形貌较易于判别缺陷性质。